两种CT成像环状伪影校正方法

• 作者: 傅健 李俊江 李保磊 杨民
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线光学 计算机层析成像 环状伪影 特征识别 B样条曲线拟合 正弦图
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 成像系统
• 页码范围: 1849-1853
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 3015字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS20092907.1849

摘要

探测器探元响应的不一致性导致计算机层析成像(CT)图像产生环状伪影,使得像质下降,影响了缺陷的判读以及图像的后续处理与量化分析.提出了两种CT成像环状伪影校正方法:基于特征识别的校正方法和基于B样条曲线拟合的校正方法.前者针对单个独立探元或者少数几个相邻探元存在突出响应不一致的情况.该方法首先识别出响应不一致探元的位置,然后在该位置执行局部中值滤波以消除正弦图中的竖直条纹.后者针对多个连续探元同时存在微小响应不一致的情况.该方法用B样条曲线拟合的方法确定各个探元的归一化增益系数,进而对探元的响应不一致性进行校正.两种方法各有特点,互为补充,共同组成较为完备的环状伪影校正体系.实验结果验证了两种方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅健	北京航空航天大学机械工程及自动化学院	32	359	14.0	18.0
2	杨民	北京航空航天大学机械工程及自动化学院	41	287	10.0	15.0
3	李保磊	北京航空航天大学机械工程及自动化学院	15	127	6.0	11.0
4	李俊江	北京航空航天大学机械工程及自动化学院	12	98	5.0	9.0