利用CCD测量单缝衍射的光强分布

• 作者: 张丽 潘华锦 马春庭
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 线阵CCD 衍射光强 平滑 Origin
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 57-58
• 页数: 2页
• 分类号: TB9
• 字数: 1950字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-6941.2009.03.029

摘要

本文介绍了线阵CCD测量系统的组成,利用线阵CCD对衍射光强分布进行了测量.本文中采用数据处理软件Origin对测量结果中的噪声进行了处理,同时拣出极大值和极小值位置.与用螺旋测微器测量的数据结果相比相对误差为4%.文中分析了影响测量结果的三个主要因素,结果表明,在没有外界光线干扰的环境下,CCD所得到数据结果能够达到很高的测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马春庭		30	210	8.0	13.0
2	潘华锦		21	135	7.0	11.0
3	张丽		17	56	4.0	6.0