ATE系统中基于相关采样定理的ADC测试方法和波形重建

• 作者: 王海涛 田雨 肖鹏程 黄俊
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: ATE测试 ADC 相关采样 波形重建
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 在线测试与故障诊断
• 页码范围: 140-143
• 页数: 4页
• 分类号: TP806+.1
• 字数: 2384字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.12.040

摘要

简要的阐述了基于ATE系统的SOC芯片的测试技术,然后重点介绍了SOC芯片中混合信号部分中ADC的测试方法.并对其中起着关键作用的相关采样定理给出了详细的阐述,提出了在实际测试中无法满足定理时的解决方法.通过一款实际的SOC芯片为例,最终给出了实际的测试数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄俊	重庆邮电大学通信学院	128	387	9.0	12.0
2	肖鹏程	复旦大学微电子学院	5	23	2.0	4.0
3	田雨	重庆邮电大学通信学院	5	19	3.0	4.0
4	王海涛	重庆邮电大学通信学院	4	28	3.0	4.0