基于C++TCL PLI联合仿真下的芯片验证方法研究

• 作者: 周智 潘闻融
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 芯片验证 C++ TCL Verilog PLI
• 年，卷（期）: 2009,（17）
• 所属期刊栏目: 自动化技术
• 页码范围: 115-117
• 页数: 3页
• 分类号: TP806
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.17.037

摘要

提出一套分层次的芯片验证架构理论和基于此验证架构下的各个验证组件的构造原理,并且描述了具体实现的方法.介绍使用C语言扩展TCL脚本语言的方法以及使用C语言扩展Verilog语言的PLI方法,通过使用共享缓存技术实现了验证组件的互联.最后基于Modelsim仿真工具编程实现了C++,TCL和PLI联合仿真验证环境的搭建.为目前芯片验证方法提出了一套现实的解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘闻融	电子科技大学自动化工程学院	1	1	1.0	1.0
2	周智	电子科技大学自动化工程学院	1	1	1.0	1.0