元器件二次筛选中的质量控制

• 作者: 董西英
• 来源期刊: 企业技术开发（下半月）
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件 二次筛选 工艺质量控制
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 信息科学
• 页码范围: 105-105
• 页数: 1页
• 分类号: TN306
• 字数: 1615字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8937.2009.10.068

摘要

文章叙述了电子元器件二次筛选的基本概念,重点对在二次筛选过程中的主要筛选工序(电功率老化和电参数测试)的工艺质量控制方法进行了阐述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董西英		8	25	3.0	5.0