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摘要:
二次筛选是电子元器件在装机使用前可靠性的重要保障过程,文章叙述了电子元器件二次筛选的基本概念,重点对在二次筛选过程中的主要筛选工序(电功率老炼和电参数测试)的工艺质量控制方法进行了阐述.
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文献信息
篇名 电子元器件二次筛选质量控制方法
来源期刊 计算机与数字工程 学科 工学
关键词 元器件 二次筛选 质量控制方法
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 111-114
页数 分类号 TM93
字数 4281字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.034
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王晓霞 1 6 1.0 1.0
2 冯素萍 1 6 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
元器件
二次筛选
质量控制方法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机与数字工程
月刊
1672-9722
42-1372/TP
大16开
武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
1973
chi
出版文献量(篇)
9945
总下载数(次)
28
总被引数(次)
47579
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