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摘要:
为了解决三代微光器件研究中出现的阴极灵敏度低、光电发射不均匀、稳定性差等问题,重点开展了艳源质量对阴极性能产生影响的试验研究.结果表明,激活艳源纯度、装配结构、艳源与阴极距离对阴极光电发射灵敏度、均匀性影响最大.艳源出口孔径多少大小及射出方向是阴极产生暗班的主要原因.在艳源材料成分结构与阴极距离确定之后,阴极灵敏度的高低主要决定于对艳源的除气工艺,通过对艳源除气工艺进行优化,制备出了阴极灵敏度大于1700μA/lm三代微光器件.
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文献信息
篇名 GaAs阴极激活铯源质量对成像器件性能的影响
来源期刊 真空电子技术 学科 工学
关键词 GaAs阴极 铯源质量 成像 器件 光电发射
年,卷(期) 2010,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 68-70
页数 分类号 TN383
字数 2410字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8935.2010.06.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐江涛 7 7 2.0 2.0
2 徐坷 1 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
GaAs阴极
铯源质量
成像
器件
光电发射
研究起点
研究来源
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相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
双月刊
1002-8935
11-2485/TN
大16开
北京749信箱7分箱
1959
chi
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2372
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