漏磁通对并联导体损耗的影响分析

• 作者: 旷建军
• 来源期刊: 电源技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 并联导体 导体损耗 环流 高频效应
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 18-20,34
• 页数: 4页
• 分类号: TM12
• 语种: 中文

摘要

针对低压大电流DC/DC高频模块电源中,为了减少绕组的高频涡流损耗,通常把厚导体分割为薄导体的并联,详细分析了把厚导体分割为薄导体的并联,由于在绝缘层处存在交变磁通,将在并联导体之间产生环流,导致导体损耗增加.有限元分析和实验结果证实了分析结果的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	旷建军	华侨大学电气工程系	3	31	1.0	3.0