模拟电路层次聚类故障分析与马氏距离故障诊断

• 作者: 侯建军 刘颖 黄亮
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 聚类分析 马氏距离
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 610-615
• 分类号: TP206+.3
• 字数: 4235字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2010.00610

摘要

基于聚类分析与马氏距离, 提出了一种模拟电路故障分析与故障诊断的方法.首先简述了层次聚类分析与马氏距离的基本原理.然后通过一个模拟电路故障诊断实例, 验证本文的有效性.首先给出一个模拟电路图, 对该电路的常见故障状态进行仿真, 获取将来进行聚类分析与故障诊断的样本.然后对采集的样本进行聚类分析, 验证聚类算法对各种故障分类能力, 并且计算各类故障的样本平均值.最后随机仿真一种故障, 计算当前电路状态与各类故障之间的马氏距离, 实现模拟电路的故障诊断.实例表明, 本方法能够准确清晰地辨别模拟电路的各类故障, 仅需少量样本即可获得各种状态的典型参数, 对模拟电路进行客观有效的故障诊断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘颖	北京交通大学电子信息工程学院	85	705	16.0	23.0
2	侯建军	北京交通大学电子信息工程学院	59	520	12.0	20.0
3	黄亮	北京交通大学电子信息工程学院	17	176	6.0	13.0