CH_3自由基的ν_2和ν_3基带在高温下的谱线强度

• 作者: 程新路 郭勤学
• 来源期刊: 四川大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: CH_3自由基 密度泛函理论 线强度
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 物理学
• 页码范围: 335-339
• 页数: 5页
• 分类号: O561
• 字数: 2377字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0490-6756.2010.02.023

摘要

采用密度泛函理论(DFT)的B3P86方法,在6-311G**基组水平上,优化出CH_3自由基的稳定构型为双重态D_(3h)构型,并得出基态的简正振动频率、转动常数.在此基础上,根据对称陀螺分子红外光谱跃迁定则,计算了谱线跃迁频率.使用以上数据,我们研究了不同温度下CH_3自由基ν_2平行谱带谱线强度,并分析了谱线强度随温度的变化规律.结果表明直到1600 K时,谱线强度计算值和实验结果符合很好.表明对CH_3自由基在高温下谱线强度的计算方法是成功的.进而计算了CH_3自由基在2000和3000 K时ν_2谱带谱线强度及模拟光谱,并总结其光谱精细结构随温度变化的规律.同时本文也给出了CH_3自由基ν_3垂直谱带在296和3000 K 时的模拟光谱.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程新路	四川大学原子与分子物理研究所	174	597	12.0	14.0
2	郭勤学	四川大学原子与分子物理研究所	2	0	0.0	0.0