基于点光源图像分析的料位测量方法

• 作者: 汪柏胜 沈文忠 高幼年
• 来源期刊: 上海电力学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 料位测量 点光源 图像分析 实景图像
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 485-488
• 分类号: TP391.41|TN911.73
• 字数: 2249字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4729.2010.05.018

摘要

利用半导体光纤点光源设计研制了料位测量装置,通过采集和分析点光源照射物料表层形成图像的方法,实时检测随容器内物料的高低而不断变化的圆形光斑,然后分析光斑的直径或面积大小以求出料位值,并将该值与料位现场实景图像同时输出,以有效避免误导操作.实验结果表明,所提方法是可行和有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈文忠	上海电力学院计算机与信息工程学院	16	73	5.0	8.0
2	汪柏胜	上海电力学院计算机与信息工程学院	2	29	1.0	2.0
3	高幼年	上海电力学院计算机与信息工程学院	10	80	5.0	8.0