威布尔分布及金铝键合寿命试验分析

• 作者: 汪张超
• 来源期刊: 混合微电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 威布尔分布 寿命预计 极大似然估计 扫描电镜 可靠性
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 51-53,61
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪张超	中国电子科技集团公司第四十三研究所可靠性研究与检测中心	16	4	1.0	2.0