X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数

• 作者: 冯志海 李仲平 李同起 王晓叶 郑斌
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 工学
• 关键词: X射线衍射仪 全谱拟合法 点阵常数 石墨化度 微晶参数
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 94-96
• 分类号: TQ32
• 字数: 2227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2010.02.026

摘要

利用X射线衍射仪,采用全谱拟含的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2.0×10~(-3),c的标准偏差小于1.4×10~(-3),石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(L_(c002))的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李同起	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室	33	245	11.0	14.0
2	冯志海	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室	92	794	16.0	24.0
3	李仲平	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室	28	433	10.0	20.0
4	王晓叶	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室	11	66	4.0	8.0
5	郑斌	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室	6	54	4.0	6.0