基于调试异常模型的嵌入式处理器片上调试设计

• 作者: 刘鹏 徐国柱 邬可俊 钟耿
• 来源期刊: 浙江大学学报(工学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 片上调试 JTAG 可观察性 可控制性
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 1067-1072
• 页数: 6页
• 分类号: TP316
• 语种: 中文
• DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2010.06.003

摘要

针对调试的可移植性,建立同流水相关的精确调试异常模型,模型通过增加调试中断、单步、软硬件断点等精确调试异常的产生和处理机制、片外调试存储空间以及基于JTAG(joint test action group)的快速通信协议,实现一种通过JTAG接口的嵌入式处理器核的片上调试方案.该调试模型在嵌入式处理器RISC32E核的应用实现表明,它具有良好的可观察性和可控制性,并且该模型的应用不局限于六级流水结构的微处理器,还可以方便地推广到其他流水结构的微处理器,对比调试过程中的一些基本调试操作开销,该调试方案具有较高的调试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘鹏		78	817	15.0	26.0
2	钟耿		2	14	1.0	2.0
3	徐国柱		1	0	0.0	0.0
4	邬可俊		1	0	0.0	0.0