羧基化碳纳米管修饰玻碳电极伏安法测定痕量钯

• 作者: 冯泳兰 唐文清 屈景年 李俊华 邝代治
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 玻碳电极 碳纳米管 线性扫描伏安法 钯
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 6-9
• 分类号: O657.14
• 字数: 3060字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2010.12.002

摘要

基于羧基化多壁碳纳米管(c-MWCNT)修饰玻碳电极,建立了无汞测定痕量钯的新方法.在0.1 mol/L的HAc-NaAc缓冲液(pH 4.5)中,当Pd2+在羧基化多壁碳纳米管修饰玻碳电极表面于-1.1 V电位下富集30 s,电位扫速为100 mV/s时,该修饰电极在线性扫描伏安图上出现一灵敏的阳极溶出峰,峰电位为0.162 V.峰电流与Pd2+浓度在5.0×1010～1.0×10-7mol/L范围内成良好的线性关系,其相关系数为0.999,方法检出限可达1.5×10-10mol/L.该修饰电极稳定性较好,可用于钯催化剂中钯含量的测定,回收率为98%～103%.