基于AT89C51的数字集成电路测试仪的设计

• 作者: 尹继武 王容石子 闫露露
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 集成电路 测试 上位机 串口通信
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 7-9
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.08.003

摘要

以单片机AT89C51为核心,通过串口与下位机通信,设计了一种通过电脑操作,单片机控制的数字集成芯片测试仪,该系统能对常用的20种74系列数字集成电路作出准确快速的功能检查.系统主要由控制及测试,上位机通信两部分组成.控制及测试部分以单片机AT89C51为核心组成.上位机通信部分由Vb编写的可视化用户界面和电平转换电路MAX232组成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹继武	陕西理工学院电信工程系	38	87	6.0	6.0
2	闫露露	陕西理工学院电信工程系	1	7	1.0	1.0
3	王容石子	陕西理工学院电信工程系	1	7	1.0	1.0