分别采用正负延迟触发的存储测试方法

• 作者: 张合 张建新 张祥金 程翔
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 侵彻 存储测试 双触发 可靠性
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 47-50
• 分类号: TJ013.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1194.2010.02.012

摘要

针对弹载存储测试系统中单一的负延迟触发方式稳定性不高,所测数据单一,测试电路集成度不高,数据易丢失等问题,提出了分别采用正负延迟触发的存储测试方法.该方法通路1以采样信号值的变化为触发信号,采用负延迟触发方式;通路2以发射击发机构运动为触发信号,采用正延迟触发方式.分析与试验表明:两种触发方式的结合,能够最大限度地减小外界干扰信号的影响,在数据采集过程中同步将数据存储于非易失存储器中,实时保存所测数据,有效提高了单次测试的可靠性,最大限度提高了系统的可利用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张合	南京理工大学智能弹药技术国防重点学科实验室	187	1217	15.0	23.0
2	张祥金	南京理工大学智能弹药技术国防重点学科实验室	53	403	12.0	17.0
3	程翔	南京理工大学智能弹药技术国防重点学科实验室	34	292	10.0	15.0
4	张建新	南京理工大学智能弹药技术国防重点学科实验室	4	37	4.0	4.0