电子设备测试性关键技术概述与研究

• 作者: 丁勇鹏 卢琳 宋振宇
• 来源期刊: 仪器仪表用户
• 学科: 工学
• 关键词: 测试性 多信号流图 内建自测试 试验验证 仿真验证
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 5-7
• 分类号: TP29
• 字数: 3493字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1041.2010.06.001

摘要

测试性是设计人员赋予产品的固有属性,对高技术含量和高复杂性电子设备的故障检测和隔离起着至关重要的作用.从电子设备的测试性分析、设计和验证三个方面入手,探讨了基于多信号流图模型的测试性分析技术、以内建自测试(BIST)为代表的数字电路测试性设计技术以及测试性试验验证法和仿真验证法,最后展望了未来测试性技术的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋振宇		29	217	6.0	14.0
2	丁勇鹏		4	10	2.0	3.0
3	卢琳		4	7	2.0	2.0