基于STM32微控制器的过采样技术研究与实现

• 作者: 吴家平 沈建华
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 量化 过采样 抽取 DMA
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 应用开发研究
• 页码范围: 209-212
• 页数: 4页
• 分类号: TP335
• 字数: 3406字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2010.02.055

摘要

针对微控制器自带ADC精度较低而外部高精度ADC价格较高的情况,介绍了过采样技术提高微控制器ADC精度的基本原理,对其在基于Cortex-M3内核的STM32微控制器上的实现进行了可行性分析.经过初步数据分析,证明过采样技术可以在该微控制器上实现.结合微控制器特性,给出了具体的软件实现方法,并对其进行了测试.论文在最后还对过采样技术给处理器带来的负荷以及其本身的局限性进行了分析.实验证明,在STM32微控制器上使用过采样技术,能够减小处理器负荷、有效地提高其自带ADC的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈建华	华东师范大学计算机科学与技术系	30	582	11.0	24.0
2	吴家平	华东师范大学计算机科学与技术系	2	49	1.0	2.0