基于STM32微控制器的过采样技术研究与实现

• 作者: 王文海
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: STM32微控制器 过采样技术 模拟数字转换器(ADC)
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 数控技术
• 页码范围: 5,7
• 页数: 2页
• 分类号: TP335
• 字数: 1834字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-9416.2017.10.004

摘要

本文通过对该微控制器数字转换器(ADC)的精度的基本原理进行研究,并对STM32微控制器内核进行可行性分析,同时通过研究数据来对过采样技术能否通过STM32微控制器技术实验,从而得出,过采样技术的使用能够有效地减少STM32微控制器中处理器的负担,大大提高其自带模拟数字转换器的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王文海		19	45	3.0	6.0