EEPROM软件分区使用技术

• 作者: 周平 孙忠富 郑文刚 闫华
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: EEPROM 失效 分区使用
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 博士论坛
• 页码范围: 20-22
• 分类号: TP216
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.02.009

摘要

针对电子产品在寿命期内发生的EEPROM失效问题,提出了存储器分区使用的方法.以AT24C64为对象,运用相关的分区算法,把存储器分成了四块容量相等的独立区域,当一块独立区域的某一单元发生失效时,程序可自动选择下一独立区域作为存储区域,并把上一块未发生失效的其他单元的数据存储到当前区域.试验结果验证了设计的可行性,解决了EEP-ROM失效后数据保存及是否更换器件等问题,在一定程度上提高了产品的可靠性,降低了产品成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑文刚		74	1123	18.0	30.0
2	闫华		5	28	3.0	5.0
3	孙忠富		90	2402	29.0	46.0