背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

• 作者: 刘元琼 谢端 赵学森 雷海乐 高党忠
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 几何光学 背光阴影成像 功率谱分析 ICF靶丸 表面粗糙度
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 2880-2884
• 分类号: O435.1
• 字数: 1841字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20102212.2880

摘要

发展了背光阴影成像技术,用于诊断透明ICF冷冻靶冰层内表面质量.分析了单层球壳阴影图像中形成亮环的物理机制.用光学追迹软件Tracepro模拟产生了透明单层球壳的阴影图像,用于研究亮环位置与球壳厚度及折射率的关系.建立了背光阴影成像实验装置,获得了透明单层球壳具有明显亮环的实验阴影图像.编制了阴影图像处理软件,获得了靶丸内表面1维功率谱曲线,并据此计算出靶丸内表面均方根粗糙度.理论分析、软件模拟及实验研究均表明,背光阴影成像技术是透明冷冻靶冰层内表面质量的有效诊断方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高党忠	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	44	290	11.0	15.0
2	雷海乐	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	29	149	7.0	10.0
3	赵学森	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	11	49	4.0	6.0
5	刘元琼	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	19	107	6.0	9.0
8	谢端	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	4	22	2.0	4.0