杆箍缩二极管X射线源焦斑的刀口法测量

• 作者: 宋顾周 张占宏 朱宏权 王奎禄 韩长材 马继明 黑东炜
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 辐射成像 焦斑 柱面刀口
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 763-767
• 分类号: O411.3
• 字数: 2001字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.06.011

摘要

辐射成像中,射线源尺寸与形状是影响图像分辨率的主要因素之一.柱面刀口法是焦斑尺寸测量最常用的方法之一.对刀口法空间分辨与视场进行了分析.实验测量了杆箍缩二极管X射线源焦斑尺寸,给出了初步结果.