铁电薄膜的厚度对其相变性质的影响

• 作者: 张现军 游娜 王胜平
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 铁电薄膜 横场伊辛模型 相图 居里温度
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 71-73
• 分类号: TN102
• 字数: 1254字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2010.09.022

摘要

当铁电薄膜的厚度改变时,利用平均场近似方法,研究了基于横场伊辛模型的铁电薄膜的相变性质.在文中利用数值计算方法计算了不同厚度的铁电薄膜的相图和居里温度.研究结果表明,厚度对铁电薄膜的相图会产生明显的影响,但对居里温度则几乎没有影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	游娜	西安电子科技大学理学院	1	0	0.0	0.0
2	张现军	西安电子科技大学微电子学院	2	1	1.0	1.0