单片机测试向量生成技术研究

• 作者: 李轩冕 胡勇 贺志容
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 测试向量 单片机
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 90-92,150
• 分类号: TM93
• 字数: 3279字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.027

摘要

集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点.文章分析了目前单片机测试向量获取的几种方法,并在此基础上提出了一种单片机测试向量生成的新方法,通过将单片机测试向量分成测试激励和测试响应两部分,测试激励部分通过编写专用脚本软件将汇编程序转换成ATE专用测试向量,测试响应部分的测试向量则通过ATE的匹配功能来完成,从而成功地实现了对单片机的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李轩冕		4	12	2.0	3.0
2	胡勇		6	12	2.0	3.0
3	贺志容		5	19	2.0	4.0