D＋离子束对钛膜缺陷结构的影响

• 作者: 王博宇
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 物理学
• 关键词: 离子束 缺陷结构 中子发生器 钛膜 辐照损伤 抗核加固 辐照育种 石油勘探
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 29-30
• 页数: 2页
• 分类号: O484.1

摘要

中子已广泛应用于冶金、化学、生物、材料辐照损伤研究、半导体抗核加固、辐照育种、治疗癌症、照相、石油勘探、地质和矿物勘探等诸多领域，中子发生器中离子源产生的D＋离子束经加速后轰击氚靶或氘靶，