ARINC659容错数据总线测试验证系统研制

• 作者: 张喜民 魏婷
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: ARINC 659:容错 背板数据总线 接口芯片设计 测试环境 功能验证
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 页码范围: 140-145
• 分类号: TP393
• 字数: 3392字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2011.06.023

摘要

研制了具有自主知识产权的自带微处理器的ARINC 659总线接口芯片,开发了接口芯片内微处理器的帧描述语言编译器；设计开发了总线接口板、通信试验台等,构建了总线通信测试验证系统.按ARINC 659总线规范要求对各实现功能进行了软、硬件联合调试和测试,测试结果验证了接口芯片、通信测试验证系统功能的正确性和完整性.研究成果已用于某些航空安全关键系统,提高了系统的可靠性,降低了全寿命周期费用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张喜民		7	96	5.0	7.0
5	魏婷		5	57	3.0	5.0