基于方差分析的电子产品质量控制图的研究

• 作者: 沈斌 高磊
• 来源期刊: 机电一体化
• 学科: 数学
• 关键词: 质量控制 控制图 方差分析
• 年，卷（期）: 2011,（9）
• 所属期刊栏目: 研究·开发
• 页码范围: 30-34
• 分类号: O213.1
• 字数: 2936字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-080X.2011.09.005

摘要

为提高电子产品的质量,降低生产成本,使用控制图是个很好的质量控制方法.针对航空电子产品生产过程中统计过程控制方法的局限性,介绍了方差分析及控制图的概念,并考虑到不同环境下样本抽样数据之间的差异,结合方差分析原理对(x)-R控制图的构造方法及上下控制限的确定方法进行了研究.通过实例分析验证了修正后的(x)一R控制图对航空电子产品生产过程中质量控制的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈斌	同济大学中德学院	117	859	16.0	24.0
2	高磊	同济大学中德学院	18	86	5.0	9.0