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计算机技术与应用:英文版期刊
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A Fault-Tolerant FPGA Architecture
A Fault-Tolerant FPGA Architecture
作者:
James Patrick Parkerson
Mohammed Tanveer Anwar
Parag Kumar Lala
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FPGA
容错
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现场可编程门阵列
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篇名
A Fault-Tolerant FPGA Architecture
来源期刊
计算机技术与应用:英文
学科
工学
关键词
FPGA
容错
架构
现场可编程门阵列
地址发生器
逻辑能力
静态RAM
芯片制造商
年,卷(期)
2011,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
311-318
页数
8页
分类号
TN791
字数
语种
DOI
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FPGA
容错
架构
现场可编程门阵列
地址发生器
逻辑能力
静态RAM
芯片制造商
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研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
计算机技术与应用:英文版
主办单位:
美国大卫出版公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1934-7332
CN:
开本:
出版地:
中国联络处:武汉洪山区卓刀泉北路金桥花园
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
364
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