纳米金修饰硅纳米线电极阳极溶出法测定痕量铅、铜

• 作者: 侯慧娜 张健 徐胡华 沈国荣
• 来源期刊: 南通大学学报：自然科学版
• 学科: 化学
• 关键词: 硅纳米线电极 差分脉冲溶出伏安法 金纳米粒子 铅 铜
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 化工 生物与环境工程
• 页码范围: 31-36
• 分类号: O657.1
• 字数: 2908字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2340.2011.04.007

摘要

以浸入沉积的方法在硅纳米线上修饰了金纳米颗粒,并通过电子扫描显微镜（SEM）和X射线荧光分析（XRF）对金纳米粒子修饰的硅纳米线电极表面形貌进行了表征.以修饰后的硅纳米线电极作为工作电极,采用阳极溶出法检测水中痕量铅和铜,考察pH值、富集电位和富集时间对溶出峰的影响,优化出最佳实验条件.在优化的实验条件下,铅Pb2＋和铜Cu2＋的灵敏度分别为0.649μA/（μg.L-1）和0.177μA/（μg.L-1）.检测极限达到0.26μg.L-1和0.67μg.L-1.峰电流与离子浓度在质量浓度25~200μg.L-1的范围内形成良好的线性关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张健	华东师范大学电子工程系	88	357	8.0	15.0
2	侯慧娜	华东师范大学电子工程系	1	1	1.0	1.0
3	沈国荣		4	2	1.0	1.0
4	徐胡华	华东师范大学电子工程系	1	1	1.0	1.0