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摘要:
在有效质量近似下,采用变分法,研究了内建电场和杂质对双电子柱形GaN/AlxGa1-xN量子点系统束缚能的影响.结果表明:杂质带负电时,体系基态能量都比较大,不易形成稳定的束缚态.带电量为e的施主杂质位于量子点中心时,杂质电子的束缚能随量子点高度和半径的增加先缓慢增大后减小,存在最大值;随着Al含量的增加,体系的束缚能增大.随着杂质从量子点下界面沿z轴移至上界面,体系的束缚能先增大后减小.与单电子杂质态相比,内建电场对双电子量子点系统束缚能的影响比较显著;当量子点高度L<6 nm时,杂质双电子量子点系统的束缚能大于单电子杂质态束缚能,而当量子点高度L6 nm时,杂质双电子量子点系统的束缚能小于单电子杂质态束缚能.
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文献信息
篇名 内建电场和杂质对双电子柱形量子点系统束缚能的影响
来源期刊 量子电子学报 学科 物理学
关键词 光电子学 柱形量子点 内建电场 杂质 束缚能
年,卷(期) 2011,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 96-103
页数 分类号 O472
字数 6235字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-5461.2011.01.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王宗篪 三明学院物理与机电工程系 44 80 5.0 5.0
2 郑冬梅 三明学院物理与机电工程系 28 57 4.0 6.0
3 苏春燕 三明学院物理与机电工程系 1 5 1.0 1.0
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