基于优化K-D树的大面积高密度PCB快速AOI

• 作者: 刘莉 叶玉堂 宋昀岑 潘明 蒲亮 陈东明
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 自动光学检测 K-D树 印制电路板
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 955-960
• 分类号: TP391.4
• 字数: 2683字
• 语种: 中文

摘要

传统的AOl孔搜索算法是基于顺序的查询方法,其局限在于,随着孔数N的增加,其查询时间以O(N2)急剧恶化,严重影响了大面积高密度PCB的检测效率.提出一种基于优化K-D树的AOl系统查询算法,该方法在建立树和进行完整查询时的效率均为O(NlogN).实验表明,这种方法查询效率明显高于顺序查询法,对含有大量孔的PCB仍然有较短的查询时间,因而可以较大幅度地提高AOI的检测效率,在需要点位置查询的仪器领域也有广泛的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘莉	电子科技大学光电信息学院	15	113	5.0	10.0
2	叶玉堂	电子科技大学光电信息学院	170	1471	17.0	30.0
3	宋昀岑	电子科技大学光电信息学院	9	73	4.0	8.0
4	潘明	电子科技大学光电信息学院	4	32	3.0	4.0
5	陈东明	电子科技大学光电信息学院	5	38	4.0	5.0
6	蒲亮	电子科技大学光电信息学院	7	54	4.0	7.0