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摘要:
全球封装测试领域著名活动“IMAPS2011”于10月9号在美国加州长滩举行了主题为“3DIC集成技术”的国际大会。应主办方邀请,来自SEMI中国的半导体项目高级经理Kevinwu对中国的先进封装测试技术市场进行了分析,阐述了目前市场存在的挑战和机遇。
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文献信息
篇名 SEMIChina在IMAPS2011上介绍分析中国半导体封装市场
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 半导体封装 技术市场 中国 封装测试 国际大会 集成技术 美国加州 高级经理
年,卷(期) 2011,(11) 所属期刊栏目 信息报道
研究方向 页码范围 45-45
页数 分类号 TN305.94
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2011.11.016
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
半导体封装
技术市场
中国
封装测试
国际大会
集成技术
美国加州
高级经理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
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