GE推出高性能X射线检测系统phoenix适用于电子制造业

• 来源期刊: 现代表面贴装资讯
• 学科: 工学
• 关键词: PHOENIX X射线检测系统 电子制造业 GE 性能 人性化设计 检测技术 质量控制
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 页码范围: 28-29
• 页数: 2页
• 分类号: TN407

摘要

GE检测技术宣布最新推出的新型phoenix x｜aminer是一个微焦点X射线检测系统，有5个轴，主要用于电子元件分装的质量控制，主要适用于焊点的可靠精确检测。phoenix x｜aminer的特点是具有2M像素的高分辨率和高放大率。除此之外，强大的成像软件更具人性化设计，使用鼠标键盘操作，精确又简单。