大电容负载LCD驱动芯片的测试及性能改进

• 作者: 李奇奋 李妥 李福乐 陈志良
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: LCD 驱动芯片 电流型DAC AB类输出驱动级 测试
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 器件驱动与控制
• 页码范围: 620-625
• 分类号: TN27|TN702.2
• 字数: 3198字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20112605.0620

摘要

提出了一种针对专用、多通道、大电容负载LCD驱动芯片的测试方案.通过FPGA为待测样片提供12.5 MHz的基本时钟、状态控制及帧频选择向量,并向数字部分寄存器写入递减数据,验证了芯片单路驱动200 pF容性负载时可以实现1 024级灰度、12 V摆幅输出.针对测试中出现的全摆幅上升时间较长及大输出幅度时的非线性问题,对芯片中的相关模块进行了测试分析,指出输出缓冲级对Miller电容的充电速度及数模转换器(DAC)对采样电容的充电速度是影响性能的关键因素,可通过适当减小片上转换电阻或采样电容来提高芯片性能.最后提出了一种使用开关电容型DAC及误差放大AB类输出驱动级电路的改进方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈志良	清华大学微电子学研究所	23	182	8.0	12.0
2	李福乐	清华大学微电子学研究所	23	95	6.0	8.0
3	李奇奋	清华大学微电子学研究所	2	5	1.0	2.0
4	李妥	清华大学微电子学研究所	2	5	1.0	2.0