用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究

• 作者: 唐遇星 张民选 成玉 蒋江 马安国
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 体系结构弱点因子(AVF) 混合AVF评估策略(HAES) 低开销容错
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 2753-2758
• 分类号: TP302.8
• 字数: 4744字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1146.2011.00137

摘要

低开销容错技术是当前软错误研究领域的热点.为了对微处理器进行低开销容错保护,首先就需要对微处理器可靠性(即体系结构弱点因子AVF (Architectural Vulnerability Factor))进行准确评估.然而,现有的AVF评估工具的精确性和适用范围都受到不同程度的限制.该文以微处理器上的核心部件(即存储部件)作为研究对象,对AVF评估方法进行改进,提出了一种访存操作分析和指令分析相结合的 AVF 评估策略 HAES (Hybrid AVF Evaluation Strategy).该文将 HAES 融入到通用的模拟器中,实现了更精确和更通用的 AVF 评估框架.实验结果表明相比其它AVF评估工具,利用该文提出的评估框架得到的AVF 平均降低22.6%.基于该评估框架计算得到的AVF更加精确地反映了不同应用程序运行时存储部件的可靠性,对设计人员对微处理器进行低开销的容错设计具有重要指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐遇星	国防科学技术大学计算机学院	10	34	4.0	5.0
2	张民选	国防科学技术大学计算机学院	63	351	9.0	16.0
3	蒋江	国防科学技术大学计算机学院	6	98	3.0	6.0
4	成玉	国防科学技术大学计算机学院	3	10	2.0	3.0
5	马安国	国防科学技术大学计算机学院	2	8	2.0	2.0