一种FPGA抗辐射布线算法设计

• 作者: 杨文龙 王伶俐 缪斯 陈丽
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: SRAM型现场可编程门阵列 单粒子翻转 通用布局布线算法 布线
• 年，卷（期）: 2011,（35）
• 所属期刊栏目: 研发、设计、测试
• 页码范围: 84-87
• 分类号: TP391
• 字数: 3375字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2011.35.024

摘要

随着集成密度的增大以及工作电压的降低,基于SRAM的FPGA芯片更加容易受到单粒子翻转的影响.提出了一种基于通用布局布线工具VPR的抗辐射布线算法,通过改变相关布线资源节点的成本函数,来减少因单粒子翻转引起的桥接错误,并与VPR比较下板测试结果.实验结果表明,该布线算法可以使芯片的容错性能提升20％左右,并且不需要增加额外的硬件资源或引入电路冗余.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伶俐	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	33	124	6.0	9.0
2	杨文龙	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	3	10	2.0	3.0
3	陈丽	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	15	34	4.0	5.0
4	缪斯	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	2	3	1.0	1.0