一种SEU硬核检测电路的设计与实现

• 作者: 周灏 崔鹏 来金梅 陈利光 鲍丽春
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 单粒子翻转 循环冗余校验 SEU检测 片上可编程系统
• 年，卷（期）: 2011,（20）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 252-254,267
• 分类号: TN47
• 字数: 2562字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.20.086

摘要

现有的现场可编程门阵列(FPGA)芯片在进行单粒子翻转(SEU)检错时,只能针对FP,GA配置单元进行周期性重复擦写而不能连续检错纠错.为此,设计一种能连续检测SEU错误并实时输出检错信息的硬核检测电路.该设计改进传统FPGA芯片的数据帧存储结构,能对芯片进行连续同读循环冗余校验(CRC).在FDP3P7芯片上的流片实现结果表明,该电路能在50 MHz工作频率下连续对芯片进行回读CRC校验,并正确输出SEU帧检错信息.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	来金梅	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	68	322	9.0	13.0
2	陈利光	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	9	81	6.0	9.0
3	崔鹏	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	9	21	3.0	4.0
4	周灏	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	5	16	3.0	4.0
5	鲍丽春	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	1	1	1.0	1.0