栅极宽度对IGBT通态压降的影响

• 作者: 关艳霞 姜秀丽
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: silvaco IGBT 栅极宽度 通态压降 仿真
• 年，卷（期）: 2011,（22）
• 所属期刊栏目: 通信与网络
• 页码范围: 115-117
• 分类号: TN32
• 字数: 1460字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6236.2011.22.042

摘要

利用silvaco软件对PT-IGBT的I-V特性进行了仿真,在同一电流密度下提取了不同栅极宽度IGBT的通态压降,得到了通态压降随栅极宽度变化的曲线,该仿真结果与理论分析一致。对于相同的元胞尺寸,栅极宽度存在最优值,只要合理地选取,可以有效地降低通态压降。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	关艳霞	沈阳工业大学信息科学与工程学院	35	79	5.0	7.0
2	姜秀丽	沈阳工业大学信息科学与工程学院	1	0	0.0	0.0