ZnS薄膜原子层沉积机理的密度泛函理论研究

• 作者: 任杰 赵卫标
• 来源期刊: 分子科学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 原子层沉积 密度泛函理论 硫化锌 沉积机理
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 280-285
• 分类号: O641
• 语种: 中文

摘要

使用密度泛函方法研究了以二乙基锌(DEZn)和H2S作为前驱体在硅表面原子层沉积ZnS的初始反应机理.ZnS薄膜的原子层沉积包括2个连续的“半反应”:即DEZn与H2S“半反应”.研究显示:DEZn与H2S“半反应”都经历了一个C2H6消去过程.通过对比在单硫氢基及双硫氢基硅表面上的反应,发现邻位硫氢基的存在有利于前驱体分子的吸附并能够降低反应活化能,这意味着双硫氢基硅表面上的反应是能量上更有利的反应.另外,也发现DEZn“半反应”比H2S“半反应”更容易进行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任杰	河北科技大学理学院	10	23	3.0	4.0
2	赵卫标	河北科技大学理学院	1	0	0.0	0.0