数控机床进给交流伺服系统的周期优化研究

• 作者: 皮佑国 黄钟
• 来源期刊: 电气传动
• 学科: 工学
• 关键词: 交流伺服系统 周期优化 反向越冲 死区
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 交、直流调速
• 页码范围: 10-13
• 分类号: TM92
• 字数: 3042字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2095.2012.01.002

摘要

交流伺服电机轴上往往加装光电编码器测量电机转子的位置以实现速度和位置闭环控制.光电编码器存在与分辨率相关的量化误差,在零速附近的范围内,量化误差造成测量死区和控制死区,影响系统的控制性能.在对测量死区的机理进行分析的基础上,提出采样周期优化方法,即在低速范围内增加采样周期时间来减少测量死区和控制死区.在模型机实验研究中将采样周期规划为在2 000～20 r/min速度范围内,速度环采样周期为0.5ms,在20～10 r/min速度范围内,速度环采样周期为1 ms,在10～0 r/min速度范围内,速度环采样周期为2 ms,从而使速度测量死区从11 r/min降低到3 r/min,满足了系统控制要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	皮佑国	华南理工大学自动化科学与工程学院	74	693	14.0	22.0
2	黄钟	华南理工大学自动化科学与工程学院	4	78	3.0	4.0