Fe-Ni合金薄膜组成表面分析测量国际关键比对CCQM-K67

• 作者: 冯颖 宋小平 王海 程斌
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 Fe-Ni合金薄膜 表面分析 X射线光电子能谱 国际关键比对
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 页码范围: 463-466
• 页数: 4页
• 分类号: TB99
• 字数: 3227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2012.05.17

摘要

利用X射线光电子能谱技术,建立了Fe-Ni合金薄膜组成表面分析准确定量方法,中国计量科学研究院参加了国际关键比对CCQM-K67.根据最近公布的关键比对结果,中国计量科学研究院测量的Fe原子分数结果为51.48％,与参加的各国国家计量研究院的结果(50.02％)达到了等效一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程斌	北京化工大学分析测试中心	26	92	5.0	9.0
2	王海		28	73	4.0	6.0
3	宋小平		31	105	5.0	8.0
4	冯颖	北京联合大学生物化学工程学院	3	10	1.0	3.0