公司与新品介绍

• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 高速存储器 动态随机存储器 测试系统 移动产品 DRAM 图形化处理 测试速度 个人电脑
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 企业之窗
• 页码范围: 61-61
• 页数: 1页
• 分类号: TP274.2
• 字数: 1007字
• 语种: 中文

摘要

爱德万测试发布最新高速存储器测试系统T5511 日前，爱德万测试发布了下一代高速DRAM测试系统T5511。T5511是爱德万测试的最新产品，是迄今为止业界高测试速度（8Gbps）的存储器测试系统，今年5月正式开始出货。 T5511是为多样化的DRAM产品提供统一的测试方案：动态随机存储器（简称DRAM）是个人电脑和工作站最常用的存储器类型。现在也被广泛应用于服务器和客户端、移动产品和图形化处理领域中。