绝缘子污秽检测方法综述

• 作者: 李红艳 翟艳烁 赵伟静 赵全香 韩振
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 污秽 检测方法
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 经验与交流
• 页码范围: 96-98
• 页数: 3页
• 分类号: TM71
• 字数: 2958字
• 语种: 中文

摘要

绝缘子污闪成为继雷电闪络之后影响电力系统外绝缘的第二大危害.随着大气污染日趋严重,绝缘子表面污秽集聚加剧,发生污闪事故的可能性增加.绝缘子污闪由表面污秽程度和潮湿的气象条件决定的,及时检测绝缘子污秽情况并及时清扫可减少污闪事故发生.将就绝缘子污秽检测方法进行介绍,重点介绍微波辐射法和紫外脉冲法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵全香	三峡大学电气与新能源学院	7	46	3.0	6.0
2	李红艳	三峡大学电气与新能源学院	11	45	4.0	6.0
3	韩振	三峡大学电气与新能源学院	2	12	1.0	2.0
4	翟艳烁	三峡大学电气与新能源学院	6	52	4.0	6.0
5	赵伟静	三峡大学电气与新能源学院	5	35	2.0	5.0