基于J750的SRAM测试程序开发和调试

• 作者: 龙永佳
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 工学
• 关键词: J750测试系统 SRAM 存储器
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 12-13,9
• 页数: 3页
• 分类号: TB97
• 字数: 2271字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8764.2012.02.004

摘要

本文介绍了基于J750测试系统开发SRAM存储器测试程序的过程,详细的阐述了用C＋＋语言生成存储器功能矢量图的方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙永佳		3	4	1.0	2.0