MOV压敏电阻静态参数变化的特征分析

• 作者: 师正 张枨 柴健 谭涌波
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 压敏电阻 压敏电压 漏电流 微观结构 冲击老化机理
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 避雷器
• 页码范围: 59-63
• 页数: 5页
• 分类号: TM862
• 字数: 2455字
• 语种: 中文

摘要

根据MOV压敏电阻内部微观结构特征,分析了其静态参数的影响因素,结合大量实验数据得出:MOV压敏电阻在冲击电流作用下,其压敏电压呈先上升后下降的趋势,上升的幅度小于下降的幅度;MOV压敏电阻的漏电流呈线性增长的趋势.通过MOV内部晶粒结构的变化特征,解释了这一实验现象,对MOV冲击老化机理的研究具有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张枨	南京信息工程大学大气物理学院	10	174	7.0	10.0
5	柴健	南京信息工程大学大气物理学院	22	77	6.0	8.0
7	谭涌波	南京信息工程大学大气物理学院	17	88	5.0	9.0
11	师正	南京信息工程大学大气物理学院	7	49	4.0	7.0