FPGA可配置资源测试方法研究

• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA测试 可测试性设计 配置 测试向量
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TN791
• 语种: 中文

摘要

FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一,随着FPGA的迅速发展,对FPGA的测试得到了广泛重视和研究,其测试技术也越来越复杂.本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础,研究了基于93000集成电路测试系统的FPGA器件测试技术,为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法.