CMOS APS用移位寄存器抗SEU加固方法

• 作者: 刘泽东 孟丽娅 王庆祥 胡大江
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: APS 移位寄存器 SEU加固 施密特触发器
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 577-581
• 分类号: TN43
• 语种: 中文

摘要

电离辐射环境中使用的CMOS有源像素图像传感器(APS)的基于反相器的准静态移位寄存器容易发生单粒子翻转(SEU),而致使CMOS APS不能正常工作.本文对基于反相器的准静态移位寄存器中的单粒子翻转效应进行了分析,其对单粒子瞬态(SET)最敏感的节点存在于反相器的输入端,反相器的输入阈值电压和输入节点电容决定了其抗SEU的能力.提出了用施密特触发器代替反相器的加固方案,因施密特触发器的电压传输特性存在一滞回区间,所以有更高的翻转阈值,从而可获得更好的抗SEU能力.仿真结果表明,采用施密特触发器的移位寄存器结构较原电路结构的抗SEU能力提高了约10倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟丽娅	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	34	172	6.0	12.0
2	刘泽东	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	6	12	2.0	3.0
3	胡大江	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	17	132	7.0	11.0
4	王庆祥	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	5	13	2.0	3.0