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摘要:
利用矢量网络分析仪测试射频微波器件时,经常需要对非插入式器件进行测量,去除适配器的影响.介绍了一种去除适配器影响的测量方法,通过单端口测试未知特性的转接器,根据假设条件和算法,使级联后理论计算值接近实际测量值,进而确定转接器的真实值,最终得到被测件的准确值,并且验证得到正确的实验结果,从而去除转接器在测试中对被测件的影响.为进一步展开端口延伸和去嵌入技术的研究奠定理论基础.
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文献信息
篇名 非插入式器件的测量
来源期刊 国外电子测量技术 学科 工学
关键词 矢量网络分析仪(VNA) 适配器 S参数 反射系数
年,卷(期) 2012,(4) 所属期刊栏目 应用天地
研究方向 页码范围 91-93,97
页数 分类号 TN9
字数 1781字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8978.2012.04.025
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 年夫顺 24 124 8.0 9.0
2 李力 中北大学电子测试技术重点实验室 6 21 3.0 4.0
传播情况
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引文网络
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2020(1)
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研究主题发展历程
节点文献
矢量网络分析仪(VNA)
适配器
S参数
反射系数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国外电子测量技术
月刊
1002-8978
11-2268/TN
大16开
北京东城区北河沿大街79号2楼
82-141
1982
chi
出版文献量(篇)
5838
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16
总被引数(次)
30622
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