半导体功率器件直流特性的自动脉冲测量

• 作者: 孙玮 孙钊
• 来源期刊: 西安工程大学学报
• 关键词: 大功率场效应晶体管 自加热效应 脉冲电压 自动测量
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 机械与电子信息工程
• 页码范围: 801-804
• 页数: 4页
• 分类号: TN386.1
• 语种: 中文

摘要

为了消除大功率场效应晶体管静态测量时的自加热效应对器件测量结果的影响，提出了一种基于Sagittarius实验测量操作平台设计的新型自动脉冲式电流-电压（I-V ）测量系统。用短脉冲技术加低负载循环，通过补偿因子进行系统校准，分析对比直流I-V测量方法和脉冲式I-V测量方法。实验结果表明，所设计的脉冲式I-V测量方法正确有效，能够得到大功率半导体器件真实的输出电导和跨导，自动测量系统相比常规测量方法可以提高测量效率约12倍，为构建大功率场效应晶体管器件的精确模型和工业生产监控提供相关测量数据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙钊	西安工业大学电子信息工程学院	9	73	4.0	8.0